企业等级: | 普通会员 |
经营模式: | 生产加工 |
所在地区: | 江苏 南京 |
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孙海保 先生
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手机号码: | 18061266190 |
公司官网: | www.njwhe.com |
公司地址: | 南京市高淳区阳江镇新桥村下桥278号 |
发布时间:2020-07-13 02:15:12
万合仪器公司一贯致力于中国元素分析仪器的研究、开发与推广,坚持不断创新,以高等院校科研院所为依托,充分应用现代高新技术,推出了WH-CS3型钢铁碳硫分析仪,分析采用电弧快速燃烧,通过气体分析法,气体容量法测定碳,液体吸收,吸收液可长期使用,不需频繁更换、碘量法测定硫,采用光敏元件控制自动滴定,终点恒定,采用微机控制电路,全自动程序操作,能快速测定样品的碳硫含量, 测试结果数显直读并自动打印,性能稳定可靠,抗干扰性能强。是目前比较成熟的一套产品,我公司通过技术手段及元器件的更换,使本产品的故障率大大减低,且关键部位选用***的传感技术,选用进口传感器检测数据,精度高,速度快并采用自动停机保护。提高了仪器的元器件使用年限和降低客户的维护费用。4微米超微孔金属过滤器、炉头自动清扫、专利技术排灰系统,减少粉尘对分析结果的影响。
WH-CS6电弧红外碳硫分析仪
测定元素:碳硫联测
分析原理:电弧炉燃烧—红外线吸收法检测
分析范围:碳:0.001%-6.0000%(可扩至99.999%) 硫:0.001%-0.5000%(可扩至99.999%) 称样量(固体样品):标准1g
分析精度:碳:符合GB223.69-97标准 硫:符合GB223.68-97标准
灵敏度(读数):C/S:0.1ppm
分析时间:20-100秒可调(通常为30秒)
工作周期:24小时连续运转
检测系统:
1.电路设计:整机采用双CPU上、下位机模块化设计,下位机选用Atmega162为控制单片机,电子线路高度集成,稳定可靠;
2.采样:采用高速24位ADS124采样芯片,采样精度高;
3.通讯:上下位机采用USB2.0接口通讯,大大提高了通讯速度;
4.连接:红外检测部分与高频炉采用光纤连接(国内首创),配合多级隐蔽式隔离电路,彻底杜绝了高频干扰;
5.电源:工业级一体化线性模块电源,输出稳定,无故障;
6.光源:新型铂金红外线光源,发热持续、光谱特性;
7.分析池:镀金碳硫分析池及热释电红外探测器;
8.电机:微型步进马达,热稳定性好。
操作软件:采用Deliph软件编译,WINDOWS XP全中文操作软件。
分析通道:提供通道管理功能,碳硫通道可自行增加、删除和编辑,无数量限制; 预置低碳和高硫接口,可实现软件自动切换。
分析功能:分析过程动态数据积分、每秒20次采样,提高了分析的灵敏度和准确度; 提供样品管理功能,可对样品名称、标识进行编辑,并可增加和删除样品名;
1、 应用功能:对白口、灰口铸铁,球墨铸铁进行C%、Si%、CEL、SC、△T、△TM、等测量,同时还附加对非合金铸铁的RM、HB、Z/H、及MEC等参数的计算,目标材质选定(FC灰铸铁,FCD球墨铸铁):多可设定10个常用材质。可同时设定八条检量线,以适应不同种类的应用场合。尺寸296×236×85●标准片:外置,带有测试窗口保护功能●滤光片:6组滤光片,滤光片可以通过分析软件自动控制切换。
2、台湾原装制造,完全的工业环境设计,性能稳定可靠,操作简便。19寸抗灰尘、抗划、耐油污红外线触摸屏(电阻/表面声波)。
3、 温度补偿范围: 0―40℃
4、 测量范围:碳当量CE测量范围3.2%-4.8% 精度±0.07%
碳含量C测量范围2.8%-4.2% 精度±0.05%
硅含量Si测量范围0.9%-3.0% 精度±0.1%
5、 配套样杯类型: K型 200℃-1370℃,测量精度: ±1℃ (相当±0.04)
6、 冷却曲线和测量数据CE、C%、Si%、TL、TE同时显示,清楚直观。实测值不在目标值上下限内时,会出现闪烁上下箭头提醒。可根据测定的成分含量、已设定的铁水量、目标成分及材料留存率自动计算材料不足量,便于炉前快速调整增碳剂、硅铁、废钢添加量,使C%、Si%进入目标上下限内。本仪器由WH-CS3碳硫高速分析仪和WH-GDⅡ微机元素分析仪组成,其中微机元素部分共三个大通道,每个通道各有五个小通道(可储存5条工作曲线),我公司通过技术手段及元器件的更换,使本产品的故障率大大减低,且关键部位采用自动停机保护。
7、 测量时间: 120秒
8、 拥有丰富的输入/输出和通讯功能,可与计算机通讯。打印方法:直接热敏;打印纸宽:79.5±0.5mm。可以快速打印曲线和测量数据。
9、机箱采用全不锈钢材质,防磁、防静电,外表面进口金属烤漆。机体尺寸:长600mm * 宽470mm * 1420mm 。机体重量:65KG。工作电源:AC220V±10%,50Hz 。
10、碳,硅值补偿校正:根据化学分析或光谱分析仪的数据可以调整补偿硅碳值。
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